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產品目錄

Product catalog

  • 昊量/星朗表面形貌輪廓測量標準片/標準樣
    昊量/星朗表面形貌輪廓測量標準片/標準樣
    昊量/星朗表面形貌輪廓測量標準片/標準樣是一款用于表面形貌測量儀器校準的標準樣。該產品包含多種幾何結構和測量區域,可支持ISO 25178相關計量特性的評估。
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  • 昊量光電/星朗浩宇立式輪廓形貌測量儀
    昊量光電/星朗浩宇立式輪廓形貌測量儀
    昊量光電/星朗浩宇立式輪廓形貌測量儀(cyberSCAN CT350T)是一款非接觸式雙面光學形貌測量設備,具有350mm XY定位平臺,上下雙傳感器同步采集高度數據,實現高精度差分厚度測量。該產品適用于半導體晶圓、工業零部件、燃料電池元件等領域的絕對厚度及TTV測量。
    型號:    廠商性質:代理商
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  • 昊量+星朗小型桌面式表面輪廓量測設備
    昊量+星朗小型桌面式表面輪廓量測設備
    昊量+星朗小型桌面式表面輪廓量測設備(cyberSCAN VANTAGE 2)是一款三維表面輪廓測量系統,通過結合高分辨率的共焦傳感技術及高精度XY位移平臺,實現高精度表面形貌分析。該產品集成一體化設計,適用于半導體、光伏、光學涂層、MEMS等領域的精密檢測。
    型號:    廠商性質:代理商
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  • 可編程皮秒脈沖發生器
    可編程皮秒脈沖發生器
    可編程皮秒脈沖發生器,脈寬可調,重頻可調,可內置時鐘的皮秒脈沖發生器。該產品提供脈寬可編程的皮秒到納秒電脈沖,輸出脈沖可短至30ps,可驅動鈮酸鋰調制器和激光二極管產生短脈沖光。
    型號:    廠商性質:代理商
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  • 膜厚測量儀(厚度范圍1nm~1.8mm)
    膜厚測量儀(厚度范圍1nm~1.8mm)
    膜厚測量儀(厚度范圍1nm~1.8mm),只需單擊鼠標即可測量 1nm 至 1.8mm 的薄膜厚度。幾乎可以測量任何透明或者半透明薄膜厚度,直觀的設計意味著您可以在幾分鐘內進行一次薄膜厚度測量!
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  • 表面等離子體共振分析儀(SPR)
    表面等離子體共振分析儀(SPR)
    表面等離子體共振分析儀(SPR),SPR 是一種表面敏感型分析技術,用于化學和生物化學傳感。通過檢測傳感器芯片表面層附近折射率的變化來進行物質分析。
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  • 日置阻抗分析儀IM3570
    日置阻抗分析儀IM3570
    日置阻抗分析儀IM3570為測量頻率4Hz~5MHz,測試電平5mV~5V的LCR電橋與阻抗分析 儀合二為一的儀器??梢杂媒涣餍盘枩y量LCR、直流信號測量電阻(DCR)、測量頻率和 電平能連續和變化的情況下進行掃描測量等。 因為能夠在不同測量條件和測量模式下進行連續和高速的測量,僅用一臺IM3570就能 取代現在用在生產線上的眾多儀器。
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  • 10.4GSPS 數字化高速采集卡
    10.4GSPS 數字化高速采集卡
    10.4GSPS 數字化高速采集卡,支持 5.2GSPS/10.4GSPS 采樣率、12-bit 分辨率,采用高速大容量數據緩存和高速數據交換技術,適用于高速、瞬態信號的精確捕獲,可用于構建多通道、 高精度10.4GSPS 數字化高速采集卡、同步采集系統。
    型號:    廠商性質:代理商
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  • OZ optics-C波段平坦型ASE模塊
    OZ optics-C波段平坦型ASE模塊
    OZ optics-C波段平坦型ASE模塊,封裝在低高度的 OEM 箱體中,并內置驅動器。
    型號:    廠商性質:代理商
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  • 手持式金屬厚度測試儀
    手持式金屬厚度測試儀
    手持式金屬厚度測試儀, 可用于方塊電阻,方阻測量。非接觸式方塊電阻方阻測量,可替代四探針傳統測量。
    型號:    廠商性質:代理商
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  • 光電倍增管模塊PMT
    光電倍增管模塊PMT
    光電倍增管模塊PMT,為儀器設計師提供了多種高性能即插即用解決方案,用于低光照和高光照水平的檢測和測量。
    型號:    廠商性質:代理商
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  • AI超高效液相色譜儀(UHPLC)-免費測樣
    AI超高效液相色譜儀(UHPLC)-免費測樣
    AI超高效液相色譜儀(UHPLC)-免費測樣,采用憲進的流通針方案,過針流路設計,實現了在無需改變任何系統配置的情況下,提供蕞寬的進樣體積范圍和蕞大的進樣回收率。不論是常規進樣還是小體積進樣,均有較高的準確度。
    型號:    廠商性質:代理商
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