昊量/星朗紅外波段分光光度計-RT 7514系列

長波紅外鍍膜精密檢測，變角度+偏振，一步到位

PHOTON RT 7514 是一款專用于長波紅外（LWIR，7.5–14 μm）波段的色散型分光光度計。該儀器以 Czerny?Turner 光柵單色器為核心，采用金鏡和 ZnSe 透鏡光學元件，主要用于平面光學元件及鍍膜樣品的透射率與反射率測量。PHOTON RT 7514 支持 0～60° 變角度入射測量，并內置高對比度偏振片，可自動完成 S 偏振、P 偏振及平均偏振光譜采集。其突出的自動光束位移補償技術（40 mm）確保了高角度下偏振測量的精度與速度。借助低噪聲制冷 MCT 探測器和優化的背景輻射管理，儀器具備非常好的基線穩定性（±0.3%/h）和重復性（光度重復精度 ±0.1%），雜散光水平低于 0.2%。整機全自動運行，適用于國防、軍工、航空航天及紅外光學制造領域中的鍍膜表征、材料篩選、鍍膜均勻性分析和質量認證。

昊量/星朗紅外波段分光光度計-RT 7514系列參數規格：

該產品產品特點：

• 專為長波紅外波段設計：有效波長范圍覆蓋 7.5–14 μm，滿足紅外光學鍍膜的高精度檢測需求。

• 變角度與偏振測量：支持 0–60° 變角度入射，內置高對比度寬帶偏振片，可自動完成 S 偏振、P 偏振及平均偏振光譜采集，無需外部附件。

• 自動光束位移補償：內置光束位移補償技術（補償量 40 mm），自動校正高角度測量時的光束偏移，確保偏振測量的精度與效率。

• 高精度與高穩定性：采用低噪聲制冷 MCT 探測器，結合優化的背景輻射管理，基線穩定性 ≤±0.3%/h，連續 60 次掃描信號偏差<0.2%；光度精度 ±0.2%，光度重復精度 ±0.1% 。

• 低雜散光水平：雜散光<0.2%，確保測量數據的可靠性。

• 全自動化操作：支持無人值守的預設測量序列，大幅降低人工誤差。

• 靈活的樣品兼容性：樣品尺寸可達 150×200 mm，厚度可達 40 mm，適配多種平面光學元件。

• 可靠的光學系統：Czerny-Turner 光柵單色器，金鏡和 ZnSe 透鏡（帶增透膜），保證優異的光學性能。

• 內置校準光源：配備紅外燈和 HgAr 波長校準驗證燈，確保波長精度。

• 堅固耐用的整機設計：尺寸 760×380×350 mm，凈重 51 kg，結構穩定，適用于研發與生產環境。

該產品應用領域：

• 國防、軍工、航空航天：紅外光學元件的計量與檢測。

• 紅外光學鍍膜表征：測量平面光學元件和鍍膜反射鏡在長波紅外波段的透射率與反射率，支持變角度（0?60°）和偏振控制（S、P偏振及其平均），為增透膜、高反膜等鍍膜工藝優化提供數據支撐。

• 紅外光學材料與元件檢測：適用于 ZnSe、Ge、硫系玻璃等材料的透過率和反射率測試，服務于紅外熱成像、紅外制導、紅外探測等系統的光學元件篩選。

• 鍍膜均勻性與光譜均勻性分析：結合電動 XY 樣品臺選件，進行二維掃描測繪，評估鍍膜在平面上的空間均勻性。

• 紅外光學系統研發與質量控制：為光學系統設計提供鍍膜元件的精確光譜數據，支持從光學仿真到裝調的全鏈條驗證；同時用于批量生產中的 QA/QC 檢測、入庫檢驗和出廠認證。